TJ270-30A游離二氧化硅檢測儀

性能指標(biāo)：

波數(shù)范圍：4000-400cm-1

波數(shù)精度：≤±4cm-1（4000-2000cm-1）≤±2 cm-1（2000-400cm-1）

分辨能力：1.5cm-1(1000cm-1附近)

透過率精度：≤±0.2%T(不含噪音電平)

Io線平直度：≤±2%T

雜散光：≤0.5%T(4000-650cm-1) ≤1%T(650-400cm-1)

測試模式：三種（透過率、吸光度、單光束）

掃描速度：五檔（很快、快、正常、慢、很慢）

狹縫程序：五檔（很寬、寬、正常、窄、很窄）

響應(yīng)：四檔（很快、快、正常、慢）

工作方式：三種：（連續(xù)掃描、重復(fù)掃描、定波長掃描）

橫、縱坐標(biāo)擴(kuò)展：任意

配套附件：粉末壓片機(jī)、壓片模具、瑪瑙研缽器、紅外烘烤箱（或電熱干燥箱）、溴化鉀粉末、*電子天平（0.01mg）、*高溫電爐、*α-SiO2標(biāo)準(zhǔn)品：純度在99%以上。

主要特點：采用計算機(jī)直接比例記錄原理。

采用一塊高能量雙閃耀光柵覆蓋整個工作波段。

采用高性能計算機(jī)進(jìn)行儀器控制和數(shù)據(jù)處理。

WINDWOS中文操作軟件。

采用USB接口。

采用國產(chǎn)TGS為接收器，價格低廉，性能可靠。

游離二氧化硅測定儀儀器主要數(shù)據(jù)處理功能：

光譜背景基線記憶 光譜背景基線校正 光譜數(shù)據(jù)累加運算 %T與ABS轉(zhuǎn)換 

光譜數(shù)據(jù)平滑運算 光譜基線傾斜校正 光譜文件管理 光譜峰值檢出

光譜數(shù)據(jù)微分運算 光譜數(shù)據(jù)四則運算 光譜刻度擴(kuò)展 光譜吸收擴(kuò)展

詳細(xì)資料：

工作環(huán)境中的粉塵種類較多,主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵等。當(dāng)粉塵中的游離二氧化硅含量較高時,對接觸人員危害較大,因此有必要加強(qiáng)對粉塵中游離二氧化硅的測定。以往檢測粉塵中的游離二氧化硅含量,均采用GB 5748 - 1985規(guī)定的“焦磷酸重量法"[ 1 ] ,但該方法操作繁瑣、檢測周期長、準(zhǔn)確性差,難以滿足批量檢測的要求。

產(chǎn)品特點： 工作環(huán)境中的粉塵種類較多,主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵等。當(dāng)粉塵中的游離二氧化硅含量較高時,對接觸人員危害較大。

TJ270-30A游離二氧化硅檢測儀